無損檢測技術(shù),被廣泛應(yīng)用于精密檢測項(xiàng)目上,如IC芯片、IGBT半導(dǎo)體等行業(yè),其能夠在不拆開/損壞產(chǎn)品的前提下,快速的對(duì)產(chǎn)品內(nèi)部結(jié)構(gòu)進(jìn)行探測,隨著市場對(duì)產(chǎn)品質(zhì)量的要求越來越高,無損檢測技術(shù)也進(jìn)入了高速發(fā)展的階段,目前市場主流的三大無損檢測方式:1.X射線檢測;2.超聲波檢測;3.磁粉檢測;
X射線檢測
X射線照相法的原理:如果被透照物體(工件)的局部存在缺陷,射線穿透工件后,由于缺陷部位和完好部位的透射射線強(qiáng)度不同,底片上相應(yīng)部位等會(huì)出現(xiàn)亮度差異。射線檢測員通過對(duì)電腦顯示器上影像的觀察,根據(jù)其明暗度的差異,便能識(shí)別缺陷的位置和性質(zhì)。
超聲檢測(UT)
超聲檢測(Ultrasonic Testing),是工業(yè)無損檢測(Nondestructive Testing)中應(yīng)用最廣泛、使用頻率最高且發(fā)展較快的一種無損檢測技術(shù),可以用于產(chǎn)品制造中質(zhì)量控制、原材料檢驗(yàn)、改進(jìn)工藝等多個(gè)方面,同時(shí)也是設(shè)備維護(hù)中不可或缺的手段之一。
磁粉檢測
磁粉檢測,本質(zhì)上是利用材料磁性變化,當(dāng)鐵磁性工件被磁化時(shí),若工件材質(zhì)是連續(xù)、均勻的,則工件中的磁感應(yīng)線將基本被約束在工件內(nèi),幾乎沒有磁感應(yīng)線從被檢表面穿出或進(jìn)入工件,被檢表面不會(huì)形成明顯的泄漏磁場。